合肥萊華試驗儀器有限公司
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TA610\620\630\631測量(微調)平臺
TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。
產品介紹
TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。
TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。
TA630微調平臺，X—Y平面轉角，俯仰角。
TA631微調平臺，X—Y平面轉角。
TA630、631都用來較小幅度的，粗確調整被測量工件的位置，提高測量精度。
